技术编号：10822588
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。光波具有不同偏振态，光学系统中经常需要改变光波的偏振态或检测光波的偏振态，由于光波的偏振态是由其正交振动的振幅比与相位差所决定，因此改变这两个参量就可以改变光波的偏振态，利用光通过晶体改变入射光的相位差的特点而制作的一类光学器件就称为波片。在光学波片零件加工制造过程中，需要反复的研磨、抛光，波片零件需要根据其性能参数进行检测，确保加工的波片零件符合要求。检测波片零件时，需要不断调整起偏器、待检测波片零件和检偏器之间的平面夹角位置，通过检偏器的光的强度周期性...
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