技术编号:10823176
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。近年来,在电磁兼容领域,对于产品的抗电磁干扰性能要求越来越高,现有的做法通常是通过手持探头式近场测试系统来确定干扰源的位置,这种方式中不可避免人体本身对测试系统的影响,导致测试准确性不高;又由于各类电子产品的电磁干扰辐射频段越来越宽,单一的探头已经无法满足日常的测试需求。因此,如何提供一种能够适用于大范围频段测试,且测试精度更高的近场测试装置,是本领域技术人员亟待解决的一个技术问题。实用新型内容本实用新型提供一种近场测试装置,以解决现有的电磁兼容性测试中准...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。