技术编号:10877287
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 现有技术中,在各种芯片内部,都需要设置测试电路,用以检测芯片内部的某部分 的功能。许多时候,芯片需要测试一个频率输出,以检查是否符合预定的频率要求;另外一 些时候,需要向芯片内部输入一个时钟,以实现对芯片进行同步控制或者加速测试;还有一 些时候,需要通过简单方便的置高或置低某些测试端,来控制某些功能的测试。 如图1和图2所示,现有技术的芯片内置的测试电路采用一个时钟选择电路。该时 钟选择电路包括第一 D触发器Fla、第二D触发器F2a、二选一电路I3a、...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。