技术编号：10919939
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。在现有技术中，一般采用千分尺或者卡尺作为精密测量工具进行高精度测量。无论是千分尺还是卡尺，测量方式都是通过游标卡住被测物的外缘，然后进行读数。这样存在的问题为当被测物的外缘凹凸不平，就非常容易造成检测难度的增加，尤其是当被测物的外缘凹陷部分与凸出部分的差值较大时，还会造成游标无法直接读数的问题。当出现上述问题时，一般都是采用两次测量法，即分别测量被测物的最外缘尺寸以及凸出部分的尺寸，然后进行差值计算即可得出凹陷部分的尺寸。这样存在的问题为千分尺或者卡尺最后...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。