技术编号:11011284
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。在基质辅助激光解析离子源进行的固态样品解析过程中,样品在常压下形成固体,经过进样系统,由常压进入真空系统,并需进行精确定位,以实现样品在一个微小的区域内解析,在极短的时间间隔,激光对样品提供高的能量,对它们进行极快的加热,这样可以避免热敏感的化合物加热分解,基质分子能有效地吸收激光的能量,并间接地传给样品分子,从而得到电离,也就实现了离子进入质量分析器,完成进样。基质辅助激光解析(MALDI)离子源进样装置在真空中进样有着至关重要的作用,由于待测样品(多为...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。