技术编号：11017404
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。目前，在电子行业中，大功率电子产品在出厂前均需做老化测试，以便筛选出不良或失效的元器件，而老化测试的方式和方法通常是利用大功率电阻作模拟负载进行烧机老化，如此，电能消耗巨大。例如，在光伏逆变器在生产过程中，在传统方法进行老化测试时，通常是在光伏逆变器的输出端直接连接在白炽灯上，把经过的逆变器电能直接转换成热能和光能消耗掉，这样的传统测试方法导致了大量电能的浪费，这些被浪费的电能增加了生产过程中的成本并且恶化了环境，同时由于所产生的热能还需要另外加装散热设备...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。