技术编号:11047829
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及电子原件测试装置的技术领域,特别涉及一种基于同步运作的高精度对位调整测试装置。背景技术随着时代的发展,CCD图像处理及应用,在自动化行业内越来越被重视,逐渐在各类专业设备仪器、工业产品中广泛使用,尤其有电路板行业,伴随着电子产品的小型化,积成度高,机构复杂,定位精度要求高等特点,CCD成像系统的地作用就显得尤为突出,而传统的机械定位方式存在着以下几点缺点:1.传统的机械定位方式对于这种高精度定位,必须要求机器和产品的加工精度极高。对产品的针点之间的间距要求要宽,不利于产品的小型化,...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。