技术编号：11050992
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及气体电离室领域，尤其涉及一种同步辐射软X射线无损实时位置分辨电离室。背景技术近些年来同步辐射应用发展迅速，利用同步辐射光源的实验方法得到了很大程度的提高，随着实验技术的不断提高以及样品尺寸的越来越小，实验对同步辐射光的质量要求也随之变得越来越高，在实验过程中对光束的无损实时监测显得尤为重要。光束位置的稳定性关系到实验样品上单色光强度甚至能量的变化，对最终实验结果有着重要的影响。对于某些实验，例如CT扫描等，完成一个完整实验往往需要较长的时间，实验过程中光束抖动对成像质量的影响很大，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。