技术编号：11052294
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于电子器件检测技术领域，更具体地，涉及一种电子元器件集群老化测试装置。背景技术市场上有各式各样的电子元器件老化测试设备，大多是固定式单一或少量集成组模块测试，作业时取出、安装很不方便，这对作业人提出更高要求，有些更是要求在安装时对应相应的接口，稍一出错，不是达不到要求、就是损坏元器件，还有的集成组不高，无法一次测试一个或多个元器件，即使有集成组件的，在一个板幅上必须加载全部才能测试，这样大大的增加了测试成本，也带来了诸多不便。实用新型内容针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本实用新型提...
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