技术编号:11062960
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体匀胶显影设备离心机主轴电机的加速度测量领域,具体的说是一种利用编码器测量离心机加速度的装置。背景技术离心机被广泛应用于半导体设备上,作为匀胶显影的核心部件,它关系到半导体设备的工艺指标。离心机的加速度、转速对晶片生产工艺有着很大的影响。如果设备离心机的加速度不准确,就会导致匀胶不均匀或显影效果不好。直接导致晶片生产成品率降低。例如:匀胶作为晶片涂胶的重要手段。光刻胶通过胶嘴滴在晶片上,通过旋转晶片使光刻胶在离心力作用下均匀涂在晶片上,离心力的大小直接影响匀胶效果,以上工艺过程都是...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。