技术编号:11063610
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路计算机辅助设计领域,尤其涉及一种库单元时延功耗状态完整性的检查方法。背景技术在标准单元库、I/O库以及IP器件的时延和功耗定义中,为了计算的准确性,模型都是分不同的状态定义的。在库文件中,时延功耗模型有三种定义格式:leakage_power()、internal_power()及timing(),状态则是用属性when定义在不同的格式中。而现在的库文件都是由siliconsmart以及liberate等工具自动生成,由于提取库中模型的选项较多,会出现状态定义混乱的情况,目前没...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。