技术编号：11072350
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及原子荧光光谱法检测配套设施，更具体地说，特别涉及一种预处理设备。背景技术原子荧光光谱法是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下产生的荧光发射强度，来确定待测元素含量的方法。气态自由原子吸收特征波长辐射后，原子的外层电子从基态或低能级跃迁到高能级经过约10s，又跃迁至基态或低能级，同时发射出与原激发波长相同或不同的辐射，称为原子荧光。原子荧光分为共振荧光、直跃荧光、阶跃荧光等。在一定实验条件下，待测元素的原子蒸气发射的荧光强度和原子化器中单位体积该元素基态原子数成正比，如此，可以根...
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