技术编号:11085885
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于光学精密测量技术领域,具体涉及一种X射线分幅相机曝光时间的测量装置。背景技术X射线分幅相机可以提供二维空间、时间宽度几纳秒的多幅等离子体发光区图像,因而成为激光惯性约束聚变实验等研究中最重要的诊断工具之一。在激光聚变点火攻关的道路上,随着激光能量的提高和打靶装置的升级,聚变点火论证实验对诊断精密化的要求越来越高。曝光时间作为X射线分幅相机最重要的性能指标,其测量与标定成为诊断精密化的重要内容。近年来,X射线分幅相机发展迅速,其时间分辨从原来的100ps左右提升到30ps甚至5ps。...
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