技术编号:11099735
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子元器件检测技术领域,涉及一种半导体点光源的发光度检测,具体地说是一种可以检测点光源光圈直径的设备。背景技术目前对于半导体点光源的光圈直径测量,没有专业的设备进行检测;市场上急需一种能够专门检测点光源光圈直径的设备。发明内容针对现有技术中存在的不足,本发明提供一种CCD光圈检测装置,实现了测试自动化,检测较为方便,采用CCD相机成像实现点光源光圈直径的检测;本发明采用的技术方案是:一种CCD光圈检测装置,包括检测平台;检测平台上的一侧为检测区,另一侧上设有一个主机;检测区内设有治具安...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。