技术编号：11100194
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于三维测量领域，具体是一种基于FPGA的三维测量方法。背景技术三维测量方法可分为接触式测量和非接触式测量。接触式采用的是探测头直接接触物体表面，通过探测头反馈回来的光电信号转换为数字面形信息，从而实现对物体面形的扫描和测量，具体包括三坐标测量机法和电磁数字法。三坐标测量法是现在最通用的测量方式之一。三坐标测量机是基于坐标测量的通用化数字测量设备。它首先将被测物体置于三坐标测量机的工作台上，当探测头触碰到工件并发出采点信号时，由控制系统去采集当前机床三轴坐标相对于机床原点的坐标值，再由计算...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。