技术编号：11106554
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及颗粒检测技术领域，具体说是涉及一种基于非均匀电场的阻抗脉冲颗粒计数装置及其计数方法。背景技术准确地对样品中颗粒进行计数在多个领域具有重要的意义和需求；例如，在生物医学研究、公众健康检测和海洋环境监测等领域，对研究用于确定目标物(如细菌、病毒和海洋微生物等)的个数的便携式颗粒快速计数装置或方法，一直有着迫切的需求。目前现有常用的颗粒计数的方法包括下述几种：1)光阻法(光学干涉原理)：光阻法是目前应用最为广泛的颗粒计数方法，又称光障碍法或光遮挡法，是利用微粒对光的遮挡所发生的光强度变化进行...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。