技术编号:11107271
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光谱采集设备控制技术,尤其涉及一种基于CCD的原位分析仪的控制方法。背景技术原位分析仪是一种用于测定材料化学成分、元素成分分布、夹杂物分布及偏析度、疏松度的光电检测设备,其基本原理是,以逐点扫描方式激发样品表面产生原子激发光谱,通过光电检测设备对原子激发光谱进行采集,然后根据采集到的原子激发光谱对样品进行建模分析。之前,原位分析仪中用于采集原子激发光谱的光电检测设备大多采用光电倍增管;与CCD相比,光电倍增管存在诸多劣势,随着CCD技术的日臻完善,在原位分析仪中用CCD替代光电倍增...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。