技术编号：11108174
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及X射线荧光光谱定量分析技术领域。背景技术目前钼铁主要采用化学分析方法进行测定，特别是主元素Mo，元素检测周期长、步骤繁琐，而采用X射线荧光光谱法测量则可以缩短检测周期，操作方便。但目前X射线荧光光谱法测定钼铁局限于压片法制样，由于受试样基体效应和粒度效应的影响，分析结果准确度较差；而玻璃熔融法制样、X射线荧光光谱法测定的准确度可与化学分析方法媲美，但是将钼铁放在坩埚中直接添加熔剂进行高温熔融，熔融过程中极易与铂金坩埚形成低熔点的合金，从而严重腐蚀铂金坩埚，使用成本非常高。（1）专利CN...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。