技术编号:11112334
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种确定导磁构件杂散损耗的方法,属于电力变压器电磁测量技术领域。背景技术目前,在电磁测量技术领域,电磁装置中导磁结构件的杂散损耗测量存在技术难点,主要在于负载(含导磁结构件)及空载(不含导磁结构件)工况条件下的励磁线圈周围的漏磁场分布会有差异。漏磁场分布的差异会导致励磁线圈在同样激励电流条件下的损耗产生差异,因此,传统的“负载损耗-空载损耗”处理方法得到导磁结构件损耗会产生一定误差。发明内容本发明的目的是提供一种确定导磁构件杂散损耗的方法,该方法利用仿真计算手段较准确地获得负载及空载条...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。