技术编号:11131986
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种暗室散射测试方法,特别是一种平面近场暗室散射的测试与补偿方法,属于天线测量技术领域。背景技术暗室散射是平面近场测量最主要的误差源之一,对暗室散射进行全面和精确的测试,是提高天线测试精度的重要手段。该方法是在通信、导航卫星天线平面近场测量校准方法研究过程中,在对误差源——暗室散射进行测试评估时进行方法设计与验证的。暗室散射是平面近场测试18项误差源中最重要、评估难度最大的误差源之一,对天线增益、旁瓣等参数的测试结果会产生重要的影响。目前最常用的暗室散射测试方法有两种,一种是通过测试天...
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