技术编号:11132093
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于LED元件测试技术领域,具体涉及一种用于测试LED元件的装置。背景技术半导体LED是一种重要的光电子器件,它在科学研究和工农业生产中均有非常广泛的应用。发光二极管虽小,但要准确测量它的各项光和辐射参数并非一件易事。现有的测试方法,是将单颗LED灯的两极进行导线的焊接。图3为现有技术LED灯的结构示意图,包括LED元件19和其两侧的LED电极20,图4为LED元件19的侧视图,由于LED元件本身尺寸限制,将导线焊接在LED电极上较为困难,经常容易损坏LED元件本身,对LED元件样品造成了...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。