技术编号:11132115
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种逻辑电路单粒子效应测试方法,尤其涉及一种基于触发器链的逻辑电路单粒子效应测试方法。背景技术空间以及高能物理实验中存在的很多高能粒子对工作在这些环境中的电子系统有严重的可靠性威胁。其中的单粒子效应对集成电路的可靠性影响随着集成电路工艺节点的提高变得越来越严重。微处理器中的逻辑电路既受到发生在触发器等时序单元的单粒子翻转影响,也受到发生在组合逻辑单元的单粒子瞬态的威胁。随着集成电路工艺节点的提高,逻辑电路的工作频率不断增加,流水线技术的逻辑深度也在增大,即有更多级的触发器在同一个逻辑路...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。