技术编号:11132193
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及微波功率计测量领域,具体设计一种微波功率计中校准信号源反射系数测量方法。背景技术为保证微波功率计的测量准确度,功率计通常备有用于自校准的50MHz、0dBm的校准信号源(或称“参考信号源”以下简称“校准源”或“源”)。失配误差的存在影响校准结果,要评价这一影响,必须准确测量校准源的反射系数。目前没有专门用于50MHz校准源反射系数测量的装置,但有一些通用的信号源反射系数测量方法可以用于实现这一测量。如果反射系数为ΓG的信号源传输至无反射负载的功率为P0,则当其连接反射系数为ΓL的负载时...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。