技术编号:11132341
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及数字信号处理、光电信号处理和辐射探测领域,尤其涉及一种带电发射衰变的探测方法与装置。背景技术带电发射衰变(ChargedParticlesEmittingDecay)是伴随带电微粒发射的衰变事件。由于速度大于介质中相速度的带电粒子将辐射出可见光光子、近红外光光子和软紫外光光子,这种效应被称为切伦科夫效应,发射的光子被称为切伦科夫光子。带有切伦科夫辐射的放射性同位素可作为在体成像的探针,通过参与生物体的各种生理和生化的过程,可构成一种新型的成像方法,在光学成像和多模医学成像中有广泛的应用...
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