技术编号：11141928
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种模拟到用于检查测量对象的坐标测量机的光学传感器上的成像的方法。此外，本发明涉及一种优化具有光学传感器的坐标测量机中测量对象的光照的方法。背景技术坐标测量机本身普遍已知。它们被使用在工业应用中，例如用于质量保证、或测量翻新(retro-fit)工艺中的部件，或者被使用在其他应用中。通过坐标测量机，以高精确度测量为了以上目的的部件的几何形状和尺寸。大体上分为所谓触觉(tactile)测量法和光学测量法的各种测量方法可以用于确定部件的坐标。触觉测量法在测量过程期间通过探测元件探测部件。例...
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