技术编号：11142055
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般涉及利用电离辐射进行的对象的无损检测。特别地，本发明涉及在利用电离辐射产生的对象图像中具有对称性的物项的探测的方法，特别是在一件行李的图像中，例如由X-射线检测系统产生的X-射线图像。背景技术DE10149254A1已经公开了具有多个固定的照射平面的用于对象(检测对象)无损检测的X-射线检测系统。这种类型的检测例如可以在机场行李的安全筛查情况中执行。在检测期间，检测对象被传递通过多个照射平面，多个照射平面中的每一者由相应的固定辐射源输出。未被检测对象吸收的X-射线的强度及其内容由与辐射...
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