技术编号：11151292
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。用于测试光电器件的方法及装置本申请是申请日为“2012年7月18日”、申请号为“201280027190.5”、题为“用于测试光电器件的方法及装置”的分案申请。技术领域本发明大体上与用于测试光电器件的方法与装置有关。背景技术在光电器件的生产中，公知地会使用一些器件用以再生仿真太阳光谱的辐射以对物品实施必要的测试与检查以检验操作上的可靠性以及在实验室条件下光电器件的整体转换效率。业界已发展出一套标准用以在以下三个性能领域定义太阳仿真器的性能：匹配太阳光谱的光谱频率、在被照射物体表面上的辐照度的空间...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。