技术编号：11152225
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电离层探测技术领域，尤其涉及一种基于多站闪电低频脉冲信号的电离层D层探测系统及方法。背景技术由于电离层具有反射无线电波的特性，对无线通信具有重要应用。为获取良好的通信效果，需要对电离层进行探测以获取特性参量。目前，受探测手段的限制，对电离层的探测和研究主要集中在E层和F层，而D层的探测研究较少。D层高度大约为50～100km，对于探空气球则太高，对于卫星探测又太低。火箭探测能够获取电离层D层的参量特征，但是存在花费大、探测范围局域性的问题。在实现本发明实施例的过程中，发明人发现：电离层...
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