技术编号：11161482
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种有机半导体薄膜晶体管(TFT：ThinFilmTransistor)阵列的检测装置及其方法，特别是涉及可检测出阵列中的断线缺陷及能评价各TFT元件的输出特性、响应速度的偏差的检测装置及其方法。背景技术作为所谓的液晶显示器、有机EL显示器的图像显示装置，采用了使用有有机半导体的薄膜晶体管阵列(以下，称作TFT阵列)。所述TFT阵列与图像显示装置的像素对应，多个有机TFT元件矩阵状排列构成回路。在此，栅极线G、信号线S的短路或断线，或者，由于有机半导体薄膜的不良而产生缺陷的情况下，对应...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。