技术编号：11194595
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及测试装置领域，具体为一种用于建筑结构位移测试装置。背景技术建筑结构位移测试是监理项目之一，在建筑领域世界各国都对高层的建筑结构中的位移控制进行相应的规定，高度不大于150m的建筑，顶部位移与层高之比，根据不同的结构体系，限值从1/550到1/1000。高度不小于250m的建筑，限值不大于1/500，现如今，在进行建筑结构位移测试中，需要使用到建筑结构位移测试装置，随着建筑行业的发展以及科技的进步，市场上出现了不同种类的用于建筑结构位移测试装置。已知市场上中国专利授权公告号CN201...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。