技术编号：11194660
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种液晶面板的厚度测量装置，属于液晶面板质量检测技术领域。背景技术液晶面板蚀刻减薄后的厚度是减薄行业一项重要的控制指标，减薄完成后的液晶面板需要测量其厚度来管控是否达到客户要求的目标厚度，液晶面板的厚度超出管控范围后的部分主要有两种：1、薄化后的厚度大于目标厚度，处理的办法是再次装入治具进行重新减薄，直到厚度达到目标厚度；2、薄化后的厚度小于目标厚度，这部分液晶面板只能做制程报废处理，会带来一定的经济损失。目前减薄后的液晶面板主要通过数显千分尺对面板四侧边缘分别至少测量一个点来检测...
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