技术编号：11195243
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种测量样品中微量元素荧光吸收谱的系统，解决存在大量干扰元素和待测微量元素的样品的吸收谱测量问题。背景技术Johansson型晶体：晶体弯曲成半径2R，然后把表面打磨成半径R的形状(即晶体的表面曲率半径为R，而晶面的曲率半径为2R)。Johansson型晶体带来的结果是从样品上点源发射的X射线可以在几乎整个晶体表面发生衍射并聚焦在探测器上相同的点，这样接收效率实现最大化。SDD：SiliconDrifedDetector硅漂移探测器。土壤中磷的含量较低(质量百分比在万分之几至千分之...
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