技术编号:11215125
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及放射性测量技术领域,特别涉及一种反康普顿反宇宙射线高纯锗谱仪。背景技术γ射线能量为几十KeV到MeV的能量范围内时,半导体探测器、闪烁晶体探测器测得的能谱中,康普顿坪的面积往往比较大,给复杂谱的解析增加了困难。较低能量的γ射线的全能峰会叠加在高能γ能谱的康普顿坪上,由于坪上计数的统计涨落,从而大大影响了低能量γ射线全能峰面积测量的精度,或有可能根本寻不到低能γ射线的全能峰。放射性测量的本底水平直接影响其探测下限,宇宙射线及环境中的天然放射性核素均会增加全谱的积分本底水平。发明内容本发明...
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