技术编号：11228321
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于光纤氢损测试处理系统的设备，属于光纤检测设备领域。背景技术光纤氢损是由于氢气的原因在光纤中引起附加损耗的一种现象。是氢气扩散进入光纤玻璃中和玻璃中的缺陷发生反应，在1240nm、1383nm、1530nm波长上造成光纤衰减增加的过程。氢损试验是对常态氢损过程的一种加速模拟过程，是为了验证氘处理过程是否有效降低或消除光纤内缺陷，检测1240nm、1383nm波长在氢损过程中的衰减程度。试验评判：波长附加衰减1240nm≥0.03dB/km,1383nm≤0.01dB/km，试验后...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。