技术编号:11228732
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于电磁无损检测领域,更具体地,涉及一种基于缺陷漏磁场源与主动探测磁源的电磁检测方法。背景技术电磁无损检测技术是以电磁感应为基础的无损检测技术,随着电子技术和计算机技术的发展,电磁无损检测技术在开发应用方面取得突破进展;电磁无损检测是利用材料在电磁场作用下呈现出的电磁特性变化来判断被检测材料组织及有关性能的一类试验方法,在无损检测中,不论方法、方式如何、均可归结为激励+检测的模式,即采用一种或多种激励方式在被测构件中产生出可以检测到的信息,由检测单元拾取这一信息,获得无损检测的信号,在电磁...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。