技术编号:11229011
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。:本发明涉及一种电气设备缺陷检测用紫外双光谱检测仪,属于电子设备技术领域。背景技术:电气设备在设计、制造、安装、运行、维护中,任何一个环节出现问题都可形成电晕放电现象。高压导体粗糙的表面、终端锐角区域、绝缘层表面污秽区、高压套管及导体终端绝缘处理不良处,和高压导线断股、导线压接不良、残缺的绝缘体、破损的瓷瓶及绝缘子等有绝缘缺陷的电气设备在高电压下运行时,就会因高电场强度而发生电晕放电,电晕放电时气体分子会持续获得并释放能量,释放能量同时产生光波及声波。空气在电晕的作用下发射的光谱(λ=280~4...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。