技术编号:11232670
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及的可数字化波长检测集成电路,可以作为掩埋CMOS双PN结光电二极管(BDJ)传感单元的信号处理电路,并且可与传感单元BDJ单片集成,实现波长探测功能的微型化、便携化。该检测电路可直接与单片机、计算机等处理器连接,实现波长探测的智能化、自动化。背景技术掩埋CMOS双PN结光电二极管,由两个垂直堆叠的不同深度的二极管构成。这种器件的层叠式结构使得以硅材料作为滤光片时,光在硅晶体中的透射深度与波长有强烈的依赖关系,两个PN结的光电流比值与波长成良好的单调递增关系,因此可以用于单色光的波长测量...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。