技术编号:11234187
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉抗辐射集成电路领域,更具体的是,涉及到一种基于三模冗余技术的抗单粒子瞬变(Single-EventTransient,SET)加固的高速环形压控振荡器(Voltage-Controlled-Oscillator,VCO)。背景技术工作在辐射环境中的芯片,受到高能粒子轰击会在芯片电路的结点电离出的“电子-空穴”,从而使得节点电压或电流产生瞬时性波动,导致电路产生错误的输出,产生SET效应。研究表明集成电路易于受到SET的影响而导致各种失效。环形VCO主要用于倍频、频率综合和时钟产生等电路。...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。