技术编号：11241510
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于膜分类的系统和方法，更具体地，涉及一种用于检验偏光膜中是否出现故障的系统和方法。背景技术光学膜可能具有引起在制造工艺中或在管理制造工艺期间发生的故障的问题。当在涂覆工艺中将配向层涂覆液或液晶涂覆液涂覆到膜上时，在成膜工艺中在膜上出现的细微缺陷(例如，裂缝、或不均匀的缺陷)可能导致涂覆故障。此外，由膜的细微缺陷引起的涂覆故障可能使作为最终产品的光学膜的光学特性变差。与光学膜有关的故障是LCD面板或PDP模块上的缺陷或损坏的主要原因。为了防止包括该故障元件的光学膜的泄漏，膜制造商趋...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。