技术编号:11249348
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及化学测量技术领域,特别涉及一种用于发射光谱背景校正的方法。它可以被应用于,例如,电感耦合等离子体、微波化学发射光谱法。背景技术在发射光谱分析中,通常需要建立样品浓度与谱线发射强度之间的关系,并根据标准曲线对实测样品中待测组分浓度进行推算实现定量分析。在建立标准曲线时,通常希望获取到谱线发射强度的净信号,即仅与待测元素浓度相关的强度值。但实际中,直接获取到的光谱数据是叠加在背景光谱之上的。由于发射光谱数据的加和性,一般可以通过离峰法与在峰法扣除背景光谱对光谱数据进行强度校正。离峰法是通过...
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