技术编号：11249356
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种常量钴的分光光度测定方法，属于化学分析技术领域。背景技术样品中常量钴的测定一般可采用的方法有重量法、电位滴定法、分光光度法、EDTA容量法和其他一些仪器分析方法。重量法流程长，操作繁琐，条件控制比较严格；电位滴定法，共存的锰干扰钴的测定，测定时需要分离除去锰、或测得钴锰合量后减去锰量得到钴的含量，使电位滴定测定钴量的方法应用受到限制；EDTA容量法干扰元素多，一般需进行分离后进行测定，同样流程长，只适合组成比较简单的样品。仪器分析法对低钴含量组分比较合适，常量钴的测定并不能得到精确...
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