技术编号：11249643
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种快速低开销全自动数字集成电路单粒子故障注入系统，属于半导体集成电路抗空间单粒子效应能力验证技术领域。背景技术复杂的空间环境中包含了大量的粒子(电子、中子、质子和重离子)和射线。这些辐射粒子会引起半导体器件发生单粒子效应，使半导体器件状态发生扰动或永久性失效。数字集成电路在应用于航天设备之前，需要在地面上评估数字集成电路内部单元和节点的抗单粒子性能，地面上通常依靠重离子加速器来模拟单粒子试验。近年来由于进行辐射试验的加速器机时减小，成本增高，数字集成电路的抗单粒子性能的验证变得更加困...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。