技术编号：11251928
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及主动式光学三维测量技术领域，具体而言，涉及系统校准方法、装置及三维重建系统。背景技术相位测量轮廓术(phasemeasuringprofilometry，PMP)是指利用相位的时间域编码生成多幅投射的图案，通过投影仪将这一系列图案投射到被测物体的表面，再由数字摄像机捕获被测物体表面的反射信息，然后计算出物体的三维坐标。在使用PMP对被测物体进行三维重建时，首先要对系统进行校准，得到数字摄像机的参数矩阵Mwc和投影仪的参数矩阵Mwp。获取校准数据时通常需要标定物，标定物可以是每个面上均有...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。