一种天体方位与高度角测量实验仪的制造方法与工艺技术资料下载

技术编号:11252251

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本发明专利涉及实验仪,尤其涉及一种天体方位与高度角测量实验仪。背景技术目前,在地平坐标系下,测量天体的准确位置(即天体高度与方位角)的测量,在基础天文学实验室与物理实验室中,仍然没有一种简易的便于学生实践操作的测量天体位置(坐标)实验仪器;传统的子午环绝对测定天体位置的方法及其不适用于低纬度地区的局限性,尤其不适合于学生实验、实习测量使用;发明设计的该实验仪,不仅仅可以用于在地平坐标系下天体位置(坐标)的测量,同时也可用于地面建筑物的高度与方位角测量,基于其显著的特点,不仅可用于天文学与物理学专...
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