技术编号：11261411
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。：本发明属于芯片测试技术领域，特别涉及一种测试擦写一体机。背景技术：晶圆在测试时，需要人工将晶圆与探针台上的探针接触，测试仪通过排线连接探针进行测试，判断此芯片的好坏，测试结束后，还需要连接擦写器，将测试过的晶圆进行擦写。测试过程依靠人工作业，强度大、效率低，而且会有出错，不能实现自动化。公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本发明的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。发明内容：本发明的目的在于提供一种测试擦写一体机，从而克服上述...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。