技术编号：11262522
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及显示面板领域，特别是涉及显示基板的测试组件以及测试方法。背景技术随着各类终端的普及，面板的应用面非常广，从智能手表、智能手机，到大尺寸显示面板。面板技术不断在发展和升级，空间利用率也越来越是获利的一个重要因素，也是面板技术的一个难点，特别是大尺寸面板，面板尺寸与切割前玻璃尺寸都越来越大，因此空间利用率更是非常重要。一般，在显示基板的制备过程当中，在制作完阵列基板后，需要进行阵列测试，主要是检测阵列基板上的扫描线以及数据线是否存在断路或者短路等故障。此外，显示基板的另一个制程是进行光配向...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。