技术编号：11283386
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光学测角方法及测角系统，特别是关于一种双光梳精密测角方法及测角系统。背景技术基于光学方法的高精度姿态角测量在先进制造领域有重要的应用。常见的光学测角方法包括自准直法以及光学干涉法。自准法测角是基于无源的反射镜作为测头，根据返回光斑的位置测量角度，特点是精度高，但是测量范围较小，且自准直光学系统存在光线切割，在不同测量距离需要重复标定，适应性较差。光学干涉法也可基于无源测头，将测头的转角转换成两路光程差的变化。其特点是精度高，但是测头复杂，抗干扰能力有限，测角范围也比较小。目前发展较...
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