技术编号:11284774
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及,特别是一种双自由落体的绝对重力测量光学系统,本发明还涉及一种双自由落体的绝对重力测量法,属于高精度绝对重力测量领域。背景技术目前,高精度绝对重力仪是国际上从七十年代开始研究的一种集光、电、计算机、真空技术于一体化的精密仪器,在检测地面垂直运动、描绘地表质量重新分布、预测全球海平面升降、标定相对重力仪漂移、矿产探测、导航技术等科学和国防建设领域都有广泛的应用。20世纪60年代以来,随着深空探测和导弹技术的高速发展,各个领域对高精度绝对重力测量的要求也不断地提高,世界各国都加大了对绝对重...
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