技术编号:11287230
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于校准光谱辐射仪(Spektralradiometer)的方法,该方法具有以下方法步骤:-通过借助待校准的光谱辐射仪测量至少一个标准光源的辐射来接收光测量数据;-通过将所接收的光测量数据与标准光源的已知数据进行比较,由光测量数据推导校准数据;-根据所述校准数据校准光谱辐射仪。背景技术光谱辐射仪是用于测量光源的例如在可见光谱范围中的光谱的设备,其中,由测量的光谱强度分布推导色度参量和光度参量。光谱辐射仪用于表征并且校准用于最不同的应用的光源。典型地,光谱辐射仪包括用于测量光谱的光谱...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。