技术编号：11351332
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型主要涉及超声波检测领域，特别涉及一种用于超声波无损检测的便携式校核试块。背景技术超声波接触时斜入射检测焊缝前，需要采用标准规定的反射体进行距离波幅校准。检验中如对校准的距离波幅曲线有疑问、检测中按钮及主要参数产生变动等情况、工作时间超过4小时以上以及检验后需要进行校核。校核的方式一般采用1'CSK-IA试块进行探头入射点、折射角的校核，请参见图1；采用2'CSK-IIA试块进行距离-波幅曲线的校核，请参见图2和图3。常用的校核试块存在的问题：（1）试块相对体积大、重量高，不方便携带至现...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。